ORIETG-X2筆式電磁超聲與渦流復合測厚儀是一款無需聲耦合劑、非接觸式厚度測量的儀器，可實現金屬或導磁性物質的厚度測量和表面涂層厚度測量。ORIETG-X2電磁超聲具有下列優勢：

  (1) ORIETG-X2電磁超聲無需耦合劑、無需打磨、無需接觸，可隔防腐層、漆層測厚。

  ORIETG-X2電磁超聲技術對工件表面要求不高，對粗糙表面無需打磨處理，可實現非接觸式測量；對涂層不敏感，可實現含涂層工件的厚度測量，可隔著防腐層測厚；無需聲耦合劑，可實現高溫工件的厚度測量，可進行溫度補償；

  (2) ORIETG-X2電磁超聲兼顧電磁超聲測厚和渦流涂層測厚功能。

  ORIETG-X2電磁超聲主機和探頭集成了電磁超聲測厚傳感器和渦流涂層測厚傳感器，能在測量工件厚度的同時兼顧測量渦流涂層厚度，測厚靈敏度較上代產品有顯著提升。

  (3) ORIETG-X2電磁超聲具備具備線掃描功能。

  ORIETG-X2電磁超聲軟件具備B掃描線掃查功能，方便對腐蝕點進行掃查。

(4)  ORIETG-X2電磁超聲對工件表面曲率要求低，測厚精度、穩定度較壓電超聲高。

ORIETG-X2電磁超聲對測厚技術人員要求不高，探頭可傾斜、無需垂直于工件也可測量，數據穩定性高、重復性 好；可以測量小徑管、彎頭內側等區域；特殊設計的測厚算法，測厚精度高，**到 0.01mm。

  (5)  ORIETG-X2電磁超聲體積小、方便攜帶，帶保存功能，單人即可完成巡檢工作。

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